Prognozowanie właściwości mechanicznych odlewów z podeutektycznych siluminów na podstawie procesów cieplnych i struktury krystalicznej / Mieczysław Hajkowski.
Opis
- Tytył: Prognozowanie właściwości mechanicznych odlewów z podeutektycznych siluminów na podstawie procesów cieplnych i struktury krystalicznej / Mieczysław Hajkowski.
- Autor: Hajkowski, Mieczysław
- ISBN: 8371435428
- Miejsce wydania: Poznań :
- Data wydania: 2003.
- Wydawca: Wydaw. PP,
- Słowa kluczowe:
- Krzepnięcie badanie
- Odlewnictwo
- Sieci neuronowe stosowanie
- Silumin mechanika.
- Symulacja stosowanie.
- Opis fizyczny: 151 s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cm.
- URl: https://wst.biblioteki.pl/site/recorddetail/2503300086143
MARC
- 020 $a 8371435428
- 040 $a WA N $c WA N $d KAT 090 $e PNN
- 041 0 $a pol $b eng
- 100 1 $a Hajkowski, Mieczysław
- 245 1 0 $a Prognozowanie właściwości mechanicznych odlewów z podeutektycznych siluminów na podstawie procesów cieplnych i struktury krystalicznej / $c Mieczysław Hajkowski.
- 260 $a Poznań : $b Wydaw. PP, $c 2003.
- 300 $a 151 s. : $b il. (w tym kolor.) ; $c 24 cm.
- 336 $a Tekst $b txt
- 337 $a Bez urządzenia pośredniczącego $b n
- 338 $a Wolumin $b nc
- 490 1 $a Rozprawy / Politechnika Poznańska, $v nr 376 $x 0551-6528 ;
- 504 $a Bibliogr.
- 546 $a Streszcz ang.
- 650 7 $a Krzepnięcie $x badanie
- 650 7 $a Odlewnictwo
- 650 7 $a Sieci neuronowe $x stosowanie
- 650 7 $a Silumin $x mechanika.
- 650 7 $a Symulacja $x stosowanie.
- 830 0 $a Rozprawy - Politechnika Poznańska $v nr 376 $x 0551-6528 ;
- 856 4 $u https://wst.biblioteki.pl/site/recorddetail/2503300086143 $z Rekord w katalogu OPAC biblioteki
Dublin Core
Indeksy
- Tytuł: Prognozowanie właściwości mechanicznych odlewów z podeutektycznych siluminów na podstawie procesów cieplnych i struktury krystalicznej / Mieczysław Hajkowski.
- Autor (Twórca): Hajkowski, Mieczysław
- Data: 2003.
- Wydawca: Wydaw. PP,
- Miejsce: Poznań :
- Język: pol
- ISBN: 8371435428
- Adres URL: https://wst.biblioteki.pl/site/recorddetail/2503300086143
- Słowa kluczowe w j. polskim: